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QFN陶瓷管壳在平行缝焊过程中器件损伤的失效分析 认领 引用
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作者 郭丽佳 王抗旱 +1 位作者 孙保瑞 王俊刚 《通讯世界》 2026年第4期14-16,共3页
针对某批次四侧无引线扁平(quad flat no-leads,QFN)陶瓷管壳在平行缝焊过程中出现器件损伤的失效进行机制分析及试验验证,同时给出了解决措施。分析结果表明,由于平行缝焊设备底托与大地之间存在寄生电容效应,QFN陶瓷管壳在平行缝焊过... 针对某批次四侧无引线扁平(quad flat no-leads,QFN)陶瓷管壳在平行缝焊过程中出现器件损伤的失效进行机制分析及试验验证,同时给出了解决措施。分析结果表明,由于平行缝焊设备底托与大地之间存在寄生电容效应,QFN陶瓷管壳在平行缝焊过程中,电源通过工装为此等效电容器充电,使QFN器件端口带有大量电荷,等效电容器放电致使QFN器件端口阻抗异常,造成器件损坏。该分析结果对类似管壳平行缝焊过程失效定位及平行缝焊设备研制具有一定参考价值。 展开更多
关键词 QFN器件 失效分析 平行缝焊 静电 寄生电容效应
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QFN封装器件应用电路谐振分析与解决方法研究 认领 引用 被引量:1
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作者 田腾 王志奎 +2 位作者 刘亚旭 崔彭 王培阳 《电子测量技术》 北大核心 2025年第21期31-37,共7页
本文基于某款QFN封装器件在Ku频段应用时出现谐振现象,导致电路出现3 dB以上的电路插损,造成电路平坦度严重恶化,根据该现象开展电路谐振分析并探究解决方案。本文对3种类型缺陷地结构共面波导的射频特性和等效电路进行理论分析,并基于... 本文基于某款QFN封装器件在Ku频段应用时出现谐振现象,导致电路出现3 dB以上的电路插损,造成电路平坦度严重恶化,根据该现象开展电路谐振分析并探究解决方案。本文对3种类型缺陷地结构共面波导的射频特性和等效电路进行理论分析,并基于共面波导理论,使用CST仿真软件对提出的第三类缺陷地结构的结构参数及传输线两端接地面空腔对传输线特性影响进行仿真分析。研究表明,QFN封装器件的射频输出引脚易和周围引脚及周围接地地面形成含有缝隙的缺陷结构共面波导,使电路等效引入了一个LC并联谐振电路。并且缺陷地结构共面波导的空腔长度l,空腔宽度w,缝隙宽度g,缝隙离空腔的边壁距离d及传输线两端接地面空腔同时出现对传输线特性均会造成影响,使电路易在低频段出现谐振点。本文对电路进行优化设计,通过去除电路中等效的缺陷地共面波导结构中的缝隙g,有效消除谐振现象。本文通过理论和仿真分析采取的去除谐振现象的手段和电路设计方法,有效提高微波带内的平坦度,该方法在现代高密度集成的第四代微波电路设计中有广泛的借鉴作用。 展开更多
关键词 共面波导 谐振 QFN封装 等效电路
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QFN器件侧焊盘预处理方法 认领 引用
3
作者 李亚飞 王聪 +3 位作者 向星诚 陈彦光 唐盘良 马晋毅 《电子工艺技术》 2025年第4期26-29,共4页
针对QFN侧焊盘氧化导致的上锡不良问题,开展了对电烙铁搪锡、酸洗处理和助焊剂清洗3种预处理方法的对比研究。最终,选定助焊剂回流清洗方法作为实际生产方案,所贴装QFN器件实现了较好的爬锡效果,为QFN器件的高可靠应用提供了参考依据。
关键词 QFN 侧焊盘预处理 爬锡高度 可靠性
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双排QFN封装器件装配工艺技术研究 认领 引用 被引量:1
4
作者 向南秀 《焊接技术》 2025年第1期70-73,共4页
文中以双排QFN器件装配质量问题为对象,根据该器件的封装特点,结合装配故障现象进行原因分析,从PCB焊盘和工艺方法两方面进行改进,提出了优化的装配工艺方法及参数。经试验验证了改进工艺方法及参数的有效性,提高了双排QFN器件的装配质... 文中以双排QFN器件装配质量问题为对象,根据该器件的封装特点,结合装配故障现象进行原因分析,从PCB焊盘和工艺方法两方面进行改进,提出了优化的装配工艺方法及参数。经试验验证了改进工艺方法及参数的有效性,提高了双排QFN器件的装配质量,使焊点质量满足标准要求,保证了器件电性能稳定与工作正常。 展开更多
关键词 双排QFN PCB焊盘 钢网 装配质量
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不同台阶对可润湿性侧翼QFN爬锡高度的影响 认领 引用
5
作者 赵伶俐 杨宏珂 +2 位作者 赵佳磊 付宇 周少明 《电子与封装》 2025年第9期29-34,共6页
近年来,方形扁平无引脚(QFN)封装凭借优异的电学与热学性能,在市场上占据越来越多的份额。作为QFN的衍生产品,可润湿性侧翼(WF)QFN因其优异的可润湿性在汽车电子领域展现出巨大的发展潜力。采用模拟爬锡的方法,探究不同的一步切割深度... 近年来,方形扁平无引脚(QFN)封装凭借优异的电学与热学性能,在市场上占据越来越多的份额。作为QFN的衍生产品,可润湿性侧翼(WF)QFN因其优异的可润湿性在汽车电子领域展现出巨大的发展潜力。采用模拟爬锡的方法,探究不同的一步切割深度与台阶宽度对QFN器件爬锡高度的影响,可以近似模拟器件焊接在PCB上的爬锡效果。结果表明,当台阶切割深度≥0.05 mm或台阶宽度≥0.02 mm时,WF QFN器件的润湿性明显增加,爬锡高度显著提升,可有效改善后期焊接的可靠性。 展开更多
关键词 可润湿性 侧翼QFN 切割深度 台阶宽度 爬锡高度
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有关QFN72和CQFN72的热阻计算 认领 引用 被引量:3
6
作者 贾松良 蔡坚 +1 位作者 王谦 丁荣峥 《电子与封装》 2014年第4期1-4,共4页
文章介绍了QFN72和CQFN72结到外壳的等效热路分析及结到外壳热阻θJC的简化计算方法,结果表明原设计下CQFN72的热阻约为1.25 K·W-1,几乎是QFN72的一倍。优化CQFN热设计的主要途径是适当减薄陶瓷基板厚度、在陶瓷基板中嵌入钨柱阵... 文章介绍了QFN72和CQFN72结到外壳的等效热路分析及结到外壳热阻θJC的简化计算方法,结果表明原设计下CQFN72的热阻约为1.25 K·W-1,几乎是QFN72的一倍。优化CQFN热设计的主要途径是适当减薄陶瓷基板厚度、在陶瓷基板中嵌入钨柱阵列、芯片减薄和采用金基焊料焊接等。从CQFN热设计考虑,不应在主散热区热沉下采用4J29或4J42焊接垫片,否则会使热阻θJC增大10%以上。 展开更多
关键词 QFN CQFN 封装 热阻 热设计
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基于改进灰狼优化算法的QFN芯片图像多阈值分割方法 认领 引用 被引量:12
7
作者 巢渊 徐魏 +2 位作者 刘文汇 曹震 张敏 《光学精密工程》 EI CAS CSCD 北大核心 2024年第6期930-944,共15页
在QFN芯片封装缺陷检测中,增加图像分割环节可有效提高缺陷检测准确性与检测效率。针对图像分割中传统算法效率低、智能优化算法分割精度低稳定性差的问题,本文提出一种基于改进灰狼优化算法(IGWO)的图像多阈值分割方法。首先,改进原始... 在QFN芯片封装缺陷检测中,增加图像分割环节可有效提高缺陷检测准确性与检测效率。针对图像分割中传统算法效率低、智能优化算法分割精度低稳定性差的问题,本文提出一种基于改进灰狼优化算法(IGWO)的图像多阈值分割方法。首先,改进原始灰狼优化算法非线性因子,平衡算法搜索效率与挖掘能力;其次,引入反向学习策略提高种群整体质量,引入正弦函数、调整头狼权重以改进灰狼更新策略,增强算法多样性与挖掘能力;然后,提出头狼靠拢与种群变异交替进行的位置更新策略,平衡算法收敛性能与跳出局部最优能力;最后,以Kapur熵为适应度函数,求解最优分割阈值。将本文提出的改进灰狼优化算法的多阈值图像分割方法,与灰狼优化算法(GWO)、基于翻筋斗觅食策略的灰狼优化算法(DSF-GWO)、基于莱维飞行的樽海鞘群优化算法(LSSA)、改进北方苍鹰算法(INGO)的图像分割方法进行实验对比,结果表明:本文方法在分割用时方面,约为DSF-GWO的1/2,INGO的1/4;在分割精度与稳定性方面,在进行QFN芯片缺陷图像的连续30次分割时,本文方法具有最大Kapur熵平均值、最小标准差与最短分割时间。因此本文方法可实现高精度、高稳定性与高效率的QFN芯片图像多阈值分割。 展开更多
关键词 灰狼优化算法 多阈值分割 Kapur熵 QFN
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微波QFN芯片的SMT技术研究 认领 引用 被引量:8
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作者 程明生 陈该青 +1 位作者 蒋健乾 林伟成 《电子工艺技术》 2006年第2期78-82,86,共5页
QFN封装的微波芯片采用一种较新的封装形式,这种封装体积很小,特别适合高密度印刷电路板组装。着重介绍微波QFN芯片的表面组装技术,从QFN的封装形式、PCB的焊盘设计、组装工艺、QFN焊点检测及QFN器件的返修等方面加以详细论述,并对针QF... QFN封装的微波芯片采用一种较新的封装形式,这种封装体积很小,特别适合高密度印刷电路板组装。着重介绍微波QFN芯片的表面组装技术,从QFN的封装形式、PCB的焊盘设计、组装工艺、QFN焊点检测及QFN器件的返修等方面加以详细论述,并对针QFN芯片总结出一套完整的组装技术。 展开更多
关键词 QFN封装 I/O焊端 导热焊盘 模板漏孔 QFN返修
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基于数值模拟的多圈QFN封装热疲劳可靠性试验设计方法 认领 引用 被引量:7
9
作者 秦飞 夏国峰 +2 位作者 高察 安彤 朱文辉 《机械工程学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2014年第18期92-98,共7页
提出一种基于数值模拟的试验设计方法,研究材料属性和几何结构对多圈四边扁平无引脚(Quad flat no-lead,QFN)封装热疲劳寿命的影响,并进行最优因子的组合设计,以提升热疲劳可靠性。采用Anand黏塑性本构模型描述无铅钎料Sn3.0Ag0.5Cu的... 提出一种基于数值模拟的试验设计方法,研究材料属性和几何结构对多圈四边扁平无引脚(Quad flat no-lead,QFN)封装热疲劳寿命的影响,并进行最优因子的组合设计,以提升热疲劳可靠性。采用Anand黏塑性本构模型描述无铅钎料Sn3.0Ag0.5Cu的力学行为,建立三维有限元模型分析焊点在温度循环过程中的应力应变,采用Coffin-Manson寿命预测模型计算多圈QFN封装的热疲劳寿命。采用Taguchi试验设计(Design of experiment,DOE)方法建立L27(38)正交试验表进行最优因子的组合设计。采用有限元分析方法对最优因子组合设计结果进行验证。结果表明,印制电路板(Printed circuit board,PCB)的热膨胀系数、焊点的高度和塑封料的热膨胀系数对热疲劳寿命的影响最为显著;初始设计情况下多圈QFN封装的热疲劳寿命为767次;最优因子组合设计情况下的热疲劳寿命提高到4 165次,为初始设计情况下的5.43倍。 展开更多
关键词 多圈QFN封装 数值模拟 热疲劳寿命 试验设计
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热像仪对QFN封装表面发射率环境透射率的标定 认领 引用 被引量:3
10
作者 元月 宇慧平 +2 位作者 秦飞 安彤 陈沛 《红外与激光工程》 EI CSCD 北大核心 2017年第9期208-212,共5页
使用红外热像仪对未切割分离的QFN封装在40~200℃进行了塑封料面、铜面和"缝"表面发射率的标定,并分别利用上述三面对实验环境的空气透射率进行了标定。结果表明:直接计算法和直接调节法可以很好地应用于塑封料发射率标定,直... 使用红外热像仪对未切割分离的QFN封装在40~200℃进行了塑封料面、铜面和"缝"表面发射率的标定,并分别利用上述三面对实验环境的空气透射率进行了标定。结果表明:直接计算法和直接调节法可以很好地应用于塑封料发射率标定,直接计算法可以应用在"缝"处、铜面发射率标定。塑封料发射率标定结果在0.97左右;"缝"处发射率标定值随着温度升高由0.17~0.35呈线性递增趋势变化;铜面发射率标定值随温度升高出现先稳定后增大趋势。塑封料面、铜及"缝"处对空气透射率标定值在100%左右,上下波动不超过2%。该实验结果可为红外热像仪测定QFN的使用温度及切割分离时的温度提供相应参数。 展开更多
关键词 表面发射率 空气透射率 QFN封装
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热–机械应力和湿气引起QFN器件层间开裂分析 认领 引用 被引量:6
11
作者 罗海萍 杨道国 李宇君 《电子元件与材料》 CAS 北大核心 2006年第6期64-66,70,共3页
采用通用有限元软件分析和计算器件在潮湿环境下的潮湿扩散,并计算由于吸潮使器件在无铅回流的高温下产生蒸汽压力,并对层间开裂现象进行分析。结果表明,气压是层间开裂的主要原因,在气压和热机械应力的作用下,层合面上的微孔洞扩张并... 采用通用有限元软件分析和计算器件在潮湿环境下的潮湿扩散,并计算由于吸潮使器件在无铅回流的高温下产生蒸汽压力,并对层间开裂现象进行分析。结果表明,气压是层间开裂的主要原因,在气压和热机械应力的作用下,层合面上的微孔洞扩张并结合起来,导致器件最后失效。 展开更多
关键词 电子技术 QFN封装 潮湿扩散 无铅焊 气压 层间开裂
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QFN器件在湿热环境中的界面裂纹分析 认领 引用 被引量:6
12
作者 杜超 蒋廷彪 农红密 《电子元件与材料》 CAS 北大核心 2009年第1期40-43,共4页
因吸潮而引起的界面破裂是塑封电子器件失效的一个重要原因。通过吸潮实验、无铅回流焊环境实验和湿热老化实验研究了QFN塑封器件内部界面裂纹情况。结果表明,未吸潮的器件经历无铅回流焊后很少产生裂纹,吸潮器件在吸潮期间未产生裂纹,... 因吸潮而引起的界面破裂是塑封电子器件失效的一个重要原因。通过吸潮实验、无铅回流焊环境实验和湿热老化实验研究了QFN塑封器件内部界面裂纹情况。结果表明,未吸潮的器件经历无铅回流焊后很少产生裂纹,吸潮器件在吸潮期间未产生裂纹,但经历无铅回流焊后器件产生裂纹的几率达100%;裂纹在芯片、芯片粘结材料(DA)和塑封材料(EMC)的交界处的破坏程度最大;产生的裂纹的位置和扩展方向与结合材料的特性、结合界面的强度紧密相关。 展开更多
关键词 QFN器件 界面裂纹 湿热 吸潮
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无铅QFN混装工艺的可靠性分析 认领 引用 被引量:7
13
作者 邹嘉佳 孙晓伟 程明生 《电子工艺技术》 2016年第1期21-23,31,共3页
QFN封装形式因其特有的优异热性能和电性能、较小的体积尺寸和轻质等特点,越来越广泛地应用于电子产品。针对混装工艺中的无铅QFN焊接工艺的虚焊问题,通过对QFN元器件进行储存管理、焊盘设计、模板设计和SMT工艺参数等方面的优化,使无铅... QFN封装形式因其特有的优异热性能和电性能、较小的体积尺寸和轻质等特点,越来越广泛地应用于电子产品。针对混装工艺中的无铅QFN焊接工艺的虚焊问题,通过对QFN元器件进行储存管理、焊盘设计、模板设计和SMT工艺参数等方面的优化,使无铅QFN焊接的一次混装成功得到保障。 展开更多
关键词 QFN 无铅 混装 可靠性
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QFN封装芯片切割分离技术及工艺应用 认领 引用 被引量:3
14
作者 郎小虎 樊兵 +1 位作者 闫伟文 王宏智 《电子工业专用设备》 2014年第11期20-23,32,共4页
总结当前QFN封装芯片切割分离方式的优缺点,从QFN封装器件材料特性出发,提出一种砂轮切割技术,并通过QFN芯片切割实验,探索能有效抑制铜材料特有毛刺发生的工艺条件。
关键词 QFN封装 冲压式QFN 延展性 毛刺
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叠层QFN器件界面层裂失效研究 认领 引用 被引量:2
15
作者 钟礼君 杨道国 蔡苗 《电子元件与材料》 CAS 北大核心 2009年第10期57-61,共5页
为了探究造成微电子封装器件界面层裂的根源,选取了叠层QFN器件进行建模仿真,模拟了其在热加载条件下的器件应力分布情况。通过粘结强度实验,测出加载力与位移的关系,其中力的峰值为2.52N,裂纹开口位移为0.29mm,计算得到的界面断裂能为1... 为了探究造成微电子封装器件界面层裂的根源,选取了叠层QFN器件进行建模仿真,模拟了其在热加载条件下的器件应力分布情况。通过粘结强度实验,测出加载力与位移的关系,其中力的峰值为2.52N,裂纹开口位移为0.29mm,计算得到的界面断裂能为10.5N/m。采用内聚力模型(CZM)与J积分这两种数值预测方法,对芯片粘结剂与铜引脚层界面层裂失效作了研究,找到裂纹萌生的关键点;两者对裂纹扩展趋势的结论一致,在预测裂纹产生方面,CZM法比J积分法更方便。 展开更多
关键词 叠层QFN 界面层裂 内聚力模型 J积分
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QFN器件组装工艺缺陷的分析与解决 认领 引用 被引量:15
16
作者 王文利 吴波 梁永生 《电子工艺技术》 2007年第5期261-263,共3页
介绍了QFN封装器件的优点,指出了QFN器件常见的组装工艺缺陷类型,分析了QFN器件组装工艺缺陷形成的原因,给出了改善这些工艺缺陷的措施,对组装过程中QFN工艺缺陷的分析与解决有一定的实用意义。
关键词 QFN 组装 缺陷 消除
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湿热环境下吸潮对QFN器件可靠性的影响研究 认领 引用 被引量:3
17
作者 农红密 蒋廷彪 《微电子学》 CAS 北大核心 2009年第4期559-562,566,共4页
由吸潮引起的微电子塑封器件失效已经越来越多地引起人们的关注。选用QFN器件作为研究对象,首先进行QFN器件在高温高湿环境下吸潮17 h、50 h、96 h试验;然后利用有限元软件分析和模拟潮湿在QFN器件中的扩散行为,并建立湿气预处理阶段应... 由吸潮引起的微电子塑封器件失效已经越来越多地引起人们的关注。选用QFN器件作为研究对象,首先进行QFN器件在高温高湿环境下吸潮17 h、50 h、96 h试验;然后利用有限元软件分析和模拟潮湿在QFN器件中的扩散行为,并建立湿气预处理阶段应力计算模型;最后,通过试验与仿真相结合,分析潮湿对封装可靠性的影响。研究表明:微电子塑封器件的潮湿扩散速度与位置有着重要的关系;在高温高湿环境下,微电子器件吸潮产生的湿热应力在模塑封装材料(EMC)、硅芯片(DIE)和芯下材料(DA)的交界处最大;QFN器件在高温高湿环境下吸潮产生的裂纹主要出现在硅芯片与DA材料交界面的边界。 展开更多
关键词 吸潮 湿热应力 QFN器件
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集成湿热及蒸汽压对塑封QFN器件的层裂影响 认领 引用 被引量:2
18
作者 蔡苗 杨道国 《电子元件与材料》 CAS 北大核心 2009年第2期61-65,共5页
针对微电子封装器件的界面层裂失效问题,利用有限元法,集成湿热及蒸汽压力的作用对塑封QFN器件的界面层裂失效问题进行了建模分析,探索了塑封QFN器件参数的优化组合。结果表明,通过对各参数的优化,如EMC的αv为12×10^-6/K,... 针对微电子封装器件的界面层裂失效问题,利用有限元法,集成湿热及蒸汽压力的作用对塑封QFN器件的界面层裂失效问题进行了建模分析,探索了塑封QFN器件参数的优化组合。结果表明,通过对各参数的优化,如EMC的αv为12×10^-6/K,引线框架的E为110GPa等,界面危险裂纹尖端点的J积分降低到优化前的1/10-1/100。研究中还发现,封装器件的参数优化组合不唯一,很有必要探讨并选择一种能适合于这种多优化组合设计的方法。 展开更多
关键词 塑封QFN器件 湿热 蒸汽压 层裂
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QFN器件组装工艺缺陷分析及预防措施 认领 引用 被引量:2
19
作者 毛久兵 邴继兵 +4 位作者 黎全英 高燕青 胡筝 张润华 张红兵 《电子工艺技术》 2023年第2期17-19,36,共3页
QFN器件在组装过程中容易出现信号焊盘桥连、散热焊盘空洞和侧面焊点爬锡高度不足等工艺缺陷。分析了缺陷形成机理,并从PCB焊盘设计、焊膏印刷模板设计提出了有效预防措施。
关键词 QFN 桥连 空洞 电子组装
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一种QFN封装器件焊接故障分析 认领 引用 被引量:3
20
作者 田景玉 孙守红 刘剑 《航天制造技术》 2015年第3期41-43,52,共3页
结合工程实践,介绍了QFN封装器件的优点和结构特点,从印制电路板裸板制板工艺、装联工艺两方面分析了一种QFN器件产生故障的原因,并给出了解决办法。通过改变制板工艺、改进网板设计等手段,有效解决连焊等问题并增强元器件的装联可靠性... 结合工程实践,介绍了QFN封装器件的优点和结构特点,从印制电路板裸板制板工艺、装联工艺两方面分析了一种QFN器件产生故障的原因,并给出了解决办法。通过改变制板工艺、改进网板设计等手段,有效解决连焊等问题并增强元器件的装联可靠性。介绍了其返修过程中应注意的工艺问题,并给出了QFN器件的可靠装联工艺。 展开更多
关键词 QFN 焊接故障 网板设计
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